[实用新型]一种射频芯片测试系统有效
| 申请号： | 201921240367.5 | 申请日： | 2019-07-31 |
| 公开（公告）号： | CN210647355U | 公开（公告）日： | 2020-06-02 |
| 发明（设计）人： | 李茂;谢凯;谢晓昆;张亦锋;辜诗涛 | 申请（专利权）人： | 广东利扬芯片测试股份有限公司 |
| 主分类号： | B07C5/344 | 分类号： | B07C5/344;B07C5/02;B07C5/36 |
| 代理公司： | 东莞市华南专利商标事务所有限公司 44215 | 代理人： | 刘克宽 |
| 地址： | 523041 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型提供一种射频芯片测试系统，包括控制设备、射频功率测试仪和自动分选机，所述控制设备分别电连接射频功率测试仪和自动分选机，所述自动分选机包括芯片放置台和多个芯片取放头，所述芯片放置台上设有多个芯片放置位，各个芯片取放头一一对应各个芯片放置位。由于自动分选机设有多个芯片取放头，且芯片放置台上设有多个芯片放置位，控制设备可同时对多个射频芯片进行测试，因此射频芯片测试系统效率高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 射频 芯片 测试 系统 | ||
【主权项】：
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