[实用新型]相控阵检测校准用试块有效
| 申请号： | 201921373330.X | 申请日： | 2019-08-22 |
| 公开（公告）号： | CN210775348U | 公开（公告）日： | 2020-06-16 |
| 发明（设计）人： | 郭剑豪;王欢;顾伟群 | 申请（专利权）人： | 上海贤达美尔森过程设备有限公司 |
| 主分类号： | G01N29/30 | 分类号： | G01N29/30 |
| 代理公司： | 上海三和万国知识产权代理事务所(普通合伙) 31230 | 代理人： | 陈伟勇 |
| 地址： | 201411 上*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型涉及相控阵检测。相控阵检测校准用试块，包括呈方形状的块状体，以块状体位于右侧的端面为右侧面、以块状体位于前方的端面为前侧面、以块状体位于后方的端面为后侧面、以块状体位于左侧的端面为左侧面，块状体的右侧设有凹陷，块状体的左侧连接有一个呈三角状的第一凸起块，块状体的左侧还连接有一个呈梯形状的第二凸起块，第二凸起块的横截面积大于第一凸起块的横截面积，第一凸起块位于下方的端面连接第二凸起位于上方的端面；块状体上开有上下贯穿的第一通孔、第二通孔。本实用新型用于校准相控阵检测仪器。 | ||
| 搜索关键词： | 相控阵 检测 校准 用试块 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海贤达美尔森过程设备有限公司，未经上海贤达美尔森过程设备有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201921373330.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：嵌套式连续型开水器内胆结构
- 下一篇：一种生物质加工烘干装置
