[实用新型]一种光束测量装置有效
| 申请号： | 201921375052.1 | 申请日： | 2019-08-23 |
| 公开（公告）号： | CN210346907U | 公开（公告）日： | 2020-04-17 |
| 发明（设计）人： | 潘建根;黄艳;许耀东 | 申请（专利权）人： | 杭州远方光电信息股份有限公司 |
| 主分类号： | G01J1/42 | 分类号： | G01J1/42;G01J3/28;G01J11/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 310053 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型公开了一种光束测量装置，包括待测光源；第一成像组件，所述第一成像组件为面阵探测器，且直接接收待测光源的一定出射角度内的光线；活动支架，活动支架相对待测光源设置，所述第一成像组件设置于所述活动支架上，其中，所述第一成像组件在所述活动支架的控制下在二维平面内进行移动。本实用新型公开一种光束测量装置，通过直接接收待测光源一定出射角度内的光线，不仅可对光源的光线结构、均匀性、光强分布进行测量，还可以对待测光源中各出射角度内的光线的光强和出射角度进行测量，同时也避免了现有技术中使用匀光膜而导致光线投射到匀光膜时形成光斑边界向外扩散，而导致测量结果受影响的问题，具有显著的有益效果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光束 测量 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于杭州远方光电信息股份有限公司，未经杭州远方光电信息股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201921375052.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
