[实用新型]一种软X射线吸收谱的测量系统有效
| 申请号： | 201921384998.4 | 申请日： | 2019-08-23 |
| 公开（公告）号： | CN212031338U | 公开（公告）日： | 2020-11-27 |
| 发明（设计）人： | 孙天啸;张祥志;曹杰锋;李小艳;邰仁忠;王勇;郭智;邢振江;何健;孟祥雨 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海应用物理研究所 |
| 主分类号： | G01N23/083 | 分类号： | G01N23/083 |
| 代理公司： | 上海智信专利代理有限公司 31002 | 代理人： | 邓琪 |
| 地址： | 201800 上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型提供一种软X射线吸收谱的测量系统，包括位于同一光轴上的平面光栅单色器、金网和待测样品，以及与所述平面光栅单色器、金网和待测样品均相连的EPICS系统，所述EPICS系统包括通过以太网相连的操作员电脑和输入/输出控制机，所述输入/输出控制机包括VME总线以及通过该VME总线相连的SIS3820计数器和数据管理模块，并通过所述数据管理模块与所述以太网相连。本实用新型采用EPICS系统与SIS3820计数器相结合，EPICS系统对其不同版本和不同编程语言的兼容性好，减少了不同软件接口时间不匹配的问题，大大增加了数据的实时性和可靠性，易于后期维护和升级。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 射线 吸收 测量 系统 | ||
【主权项】：
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