[实用新型]一种具有低点缺陷密度的二类超晶格光探测器

摘要

本实用新型公开了一种具有低点缺陷密度的二类超晶格光探测器，属于光探测器技术领域，包括外壳、电子组件和探测窗，所述电子组件安装在外壳内部，所述探测窗镶嵌在外壳表面，所述外壳分别包括下壳体和上壳体，所述下壳体和上壳体一端通过铰链连接，所述上壳体顶端螺旋插接有锁紧轮，所述上壳体表面对称开设有定位孔，所述下壳体右端表面中间位置开设有螺纹孔，且下壳体右端表面对称安装有定位柱，所述下壳体上方一体成型有凸台，所述凸台外壁靠近底端粘接有密封圈。本实用新型把上壳体和下壳体的一端通过铰链连接，组装的时候，仅通过一个锁紧轮插接在螺纹孔内部即可锁紧固定，操作省时省力。