[实用新型]通用芯片开短路测试电路有效
| 申请号： | 201921446281.8 | 申请日： | 2019-09-02 |
| 公开（公告）号： | CN210720648U | 公开（公告）日： | 2020-06-09 |
| 发明（设计）人： | 廖钰 | 申请（专利权）人： | 深圳市华力宇电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳市宏德雨知识产权代理事务所(普通合伙) 44526 | 代理人： | 李捷 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝安区航城街道*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型公开了一种通用芯片开短路测试电路，该电路包括单片机、DAC电路、恒流源电路、三态驱动电路、芯片座及高精度ADC采样电路，所述单片机与三态驱动电路连接，该单片机还分别与DAC电路及高精度ADC采样电路连接并通信，所述恒流源电路分别与DAC电路的输出端、三态驱动电路的输出端、待测试芯片的输入端及高精度ADC采样电路的输入端连接。本实用新型的单片机通过高精度ADC采样电路读取待测试芯片的引脚的电压判断待测试芯片的引脚为开路或短路，结构简单，成本低。此外，本实用新型的单片机适用于测试20引脚以内待测试芯片的任意引脚的开短路，测试效率及稳定性高。 | ||
| 搜索关键词： | 通用 芯片 短路 测试 电路 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市华力宇电子科技有限公司，未经深圳市华力宇电子科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201921446281.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种湿垃圾密闭发酵垃圾桶
- 下一篇：一种医院用空气净化装置
