[实用新型]单反射面紧缩场装置有效
| 申请号： | 201921459181.9 | 申请日： | 2019-09-04 |
| 公开（公告）号： | CN211528544U | 公开（公告）日： | 2020-09-18 |
| 发明（设计）人： | 李志平;覃媛媛;王正鹏;武建华 | 申请（专利权）人： | 北京航空航天大学 |
| 主分类号： | G01R29/10 | 分类号： | G01R29/10;H01Q19/12;H01Q15/16 |
| 代理公司： | 北京正理专利代理有限公司 11257 | 代理人： | 付生辉 |
| 地址： | 100191*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型公开一种单反射面紧缩场装置。该装置的一实施方式包括：馈源和单反射面系统，所述馈源对所述单反射面系统的反射面偏馈照射，所述单反射面系统的焦距的取值为2～3倍口径。该实施方式采用焦径比较大的长焦设计，可通过长焦减缩偏馈量来控制交叉极化到合理范围，以提升交叉极化隔离度，可使交叉极化隔离度大于‑30dB，趋近于‑38dB～‑40dB之间，提高了正交极化隔离天线的测量精度，制造及装配精度容易实现，不存在多反射面装配的累积误差，相对容易实现更高频率工作要求的反射面精度，提高了紧缩场系统设计的工程可实现性，适用于毫米波/THz测试场，克服了双/多反射面系统难以实现低交叉极化的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 反射 紧缩 装置 | ||
【主权项】：
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