[实用新型]超高真空极低温四探针测量装置有效
| 申请号： | 201921487258.3 | 申请日： | 2019-09-06 |
| 公开（公告）号： | CN210775555U | 公开（公告）日： | 2020-06-16 |
| 发明（设计）人： | 王文杰 | 申请（专利权）人： | 仪晟科学仪器（嘉兴）有限公司 |
| 主分类号： | G01Q60/00 | 分类号： | G01Q60/00;G01Q30/02;G01Q30/10;G01Q30/16;G01Q70/08 |
| 代理公司： | 嘉兴启帆专利代理事务所(普通合伙) 33253 | 代理人： | 张抗震 |
| 地址： | 314000 浙江省嘉兴市南湖区亚*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种超高真空极低温四探针测量装置，包括底座，所述底座设有螺纹腔和支撑部，螺杆部分内置于所述螺纹腔，所述螺杆的顶部为半球；探针台位于所述底座的上端并且所述底座通过支撑部支撑所述探针台，所述螺杆通过半球与所述探针台接触并且所述螺杆通过旋转使半球顶着探针台旋转，所述探针台的上端安装有四个探针，所述探针用于接触电极并且检测电极的完好性，样品托装置的上端与所述上板架固定连接。本实用新型公开的一种超高真空极低温四探针测量装置，其与显微镜配合使用，加通直流电检测样品的完好性。 | ||
| 搜索关键词： | 超高 真空 低温 探针 测量 装置 | ||
【主权项】：
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