[实用新型]集成电路芯片测试系统有效
| 申请号： | 201921496168.0 | 申请日： | 2019-09-09 |
| 公开（公告）号： | CN210665952U | 公开（公告）日： | 2020-06-02 |
| 发明（设计）人： | 张悦 | 申请（专利权）人： | 合肥悦芯半导体科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人： | 刘亚飞 |
| 地址： | 230000 安徽省合肥市经济*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本实用新型提供一种集成电路芯片测试系统，涉及集成电路芯片测试技术领域。该系统包括：第一测试设备、第二测试设备、采集设备、存储设备和计算设备，第一测试设备、采集设备、存储设备和第二测试设备之间依次电连接，且计算设备分别与第一测试设备、第二测试设备、采集设备和存储设备电连接；计算设备用于对第一测试设备、第二测试设备、采集设备和存储设备进行控制，采集设备在第一测试设备接入预设集成电路芯片时，采集针对预设集成电路芯片的运行信号，并将运行信号存储至存储设备；第二测试设备从存储设备获取运行信号，并基于运行信号对待测集成电路芯片进行测试。本公开能够提高测试待测集成电路芯片的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 芯片 测试 系统 | ||
【主权项】：
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