[实用新型]一种基于散热机构的半导体制冷片测试装置有效
| 申请号： | 201921597719.2 | 申请日： | 2019-09-24 |
| 公开（公告）号： | CN210626254U | 公开（公告）日： | 2020-05-26 |
| 发明（设计）人： | 耿靳财;徐越;祁奇;莫雄峰 | 申请（专利权）人： | 青云志能源科技(苏州)有限公司 |
| 主分类号： | G01N3/60 | 分类号： | G01N3/60;G01M7/08 |
| 代理公司： | 苏州启华专利代理事务所(普通合伙) 32357 | 代理人： | 徐伟华 |
| 地址： | 215222 江苏省苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种基于散热机构的半导体制冷片测试装置，其包括：散热机构、供电电源、温度监控记录仪和电控装置，所述半导体制冷片设置在散热机构上，所述供电电源与电控装置相连接进行电力供应，所述电控装置与半导体制冷片相连接，循环进行半导体制冷片的正向通电和反向通电，并设定每次正向通电和反向通电时间及循环测试的次数，所述温度监控记录仪的探头设置在半导体制冷片表面进行温度监控和记录。本实用新型所述的基于散热机构的半导体制冷片测试装置，通过电控装置循环进行半导体制冷片的正向通电和反向通电，实现半导体制冷片的冷热冲击效果，并通过散热机构进行散热环境的营造，提高产品可靠性测试效果，实现自动化测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 散热 机构 半导体 制冷 测试 装置 | ||
【主权项】：
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