[实用新型]射频激励响应测量设备及传递函数测量系统

摘要

本实用新型公开了一种射频激励响应测量设备及传递函数测量系统，适用于直线构型试件，其中测量设备包括：底座，用于固定安装试件；激励输入部，固定安装在底座上，用于与试件电连接；移动部，安装在底座上且可沿试件长度方向移动，移动部上安装有测量线圈，测量线圈用于套设在试件上；响应输出部，与测量线圈电连接。通过在试件尖端施加射频激励，用测量线圈沿试件测量试件各处的激励响应，以此来计算试件的传递函数。进而可以采用试件例如植入物的传递函数来解耦植入物与人体模型，可以较为准确的对植入物和人体复杂的环境耦合进行模拟计算植入物的射频制热，较为准确的对植入物的射频制热进行评价。