[实用新型]一种微流控芯片测温成像装置有效

专利信息
申请号: 201921708658.2 申请日: 2019-10-13
公开(公告)号: CN210719410U 公开(公告)日: 2020-06-09
发明(设计)人: 郭玉国;王瑀;潘桂建 申请(专利权)人: 镇江国裕纳米新材料科技有限公司
主分类号: G01J5/00 分类号: G01J5/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 212100 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型提供了一种微流控芯片测温成像装置,包括用于发出近红外激光束的近红外激光源,用于反射近红外激光束的半反半透镜,用于收集微流控芯片中上转换纳米颗粒发出光线的物镜,用于拍照成像的相机;近红外激光源、半反半透镜、相机、物镜均设置在壳体内,物镜、半反半透镜、相机在同一垂直线上,且在半反半透镜和相机之间设置滤光片组,近红外激光源与半反半透镜在同一水平线上,在壳体内还设置有监测近红外激光源的温度监控装置。该方案采用近红外激光束照射上转换纳米颗粒的方法,再通过光学成像的手段收集上转换纳米颗粒发出的光,获得微流控芯片一定空间范围内的温度分布情况,不需要接触微流控芯片,避免对微流控芯片的影响。
搜索关键词: 一种 微流控 芯片 测温 成像 装置
【主权项】:
暂无信息
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