[实用新型]一种老化测试装置有效
申请号: | 201921732281.4 | 申请日: | 2019-10-16 |
公开(公告)号: | CN210627915U | 公开(公告)日: | 2020-05-26 |
发明(设计)人: | 曹佶;赵宝忠 | 申请(专利权)人: | 杭州可靠性仪器厂 |
主分类号: | G11C29/56 | 分类号: | G11C29/56 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 310016 浙江省杭*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种老化测试装置,包括用于配置老化测试信息的上位机控制组件、通信组件、电源系统、用于接收和驱动测试信息的信息驱动组件,以及用于装载待测存储器的老化组件,所述上位机控制组件通过所述通信组件与所述信息驱动组件电性连接,所述通信组件和所述信息驱动组件分别与所述电源系统电性连接;所述老化组件包括烘箱和多个间隔设置的老化板,所述老化板设置在所述烘箱内,所述信息驱动组件包括多个用于驱动测试信息的驱动板和用于连接多根信息线的高频连接器,所述驱动板通过所述高频连接器与所述老化板电性连接。其能解决存储器老化测试装置的测试频率不高,而不能满足高速存储器老化测试的问题。 | ||
搜索关键词: | 一种 老化 测试 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
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