[实用新型]一种可控硅元件温度故障检测装置有效
申请号: | 201921789712.0 | 申请日: | 2019-10-23 |
公开(公告)号: | CN210922853U | 公开(公告)日: | 2020-07-03 |
发明(设计)人: | 韩红英;岳占斌;朱杰;杨国红;张永昌;张晶晶;封梦倩 | 申请(专利权)人: | 金川集团股份有限公司 |
主分类号: | G01K1/02 | 分类号: | G01K1/02;G05B19/05 |
代理公司: | 甘肃省知识产权事务中心 62100 | 代理人: | 罗崇莉 |
地址: | 737103*** | 国省代码: | 甘肃;62 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种可控硅元件温度故障检测装置,包括电源控制回路、PLC系统,还包括温度检测装置,所述温度检测装置的输出信号端连接有信号继电器,所述信号继电器与PLC系统连接,所述温度检测装置的输入端接入电源控制回路,所述温度检测装置的控制端接入一组或多组可控硅温度检测回路,每组可控硅温度检测回路包括温度继电器、微动开关,所述温度继电器的线圈与微动开关的辅助常开点连接,所述温度继电器的常开点与温度检测装置的输入端连接;本实用新型能够快速准确发现故障,消除了因小故障引发的大故障,提高了设备运行效率,减少故障率。 | ||
搜索关键词: | 一种 可控硅 元件 温度 故障 检测 装置 | ||
【主权项】:
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