[实用新型]一种改善插件上锡率的PCB架构有效

专利信息
申请号: 201921922819.8 申请日: 2019-11-08
公开(公告)号: CN210958966U 公开(公告)日: 2020-07-07
发明(设计)人: 詹俊德;王灿钟 申请(专利权)人: 深圳市一博科技股份有限公司
主分类号: H05K1/11 分类号: H05K1/11
代理公司: 深圳市远航专利商标事务所(普通合伙) 44276 代理人: 田志远;袁浩华
地址: 518000 广东省深圳市南山区科*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开了一种改善插件上锡率的PCB架构,包括PCB板、若干电路走线和设于所述PCB板上的插件通孔,其特征在于,在所述插件通孔边缘设有若干过孔,所述过孔的钻孔区域与所述插件通孔的钻孔区域交叉,形成交错区域,所述交错区域的面积等于所述过孔的钻孔区域面积的1/3~1/2。本实用新型提供了一种改善插件上锡率的PCB架构,通过在插件通孔上设置若干过孔,形成交叉区域的方式来增加插件通孔的尺寸,从而有效地解决了因通孔尺寸小、PCB过波峰焊时上锡率低的问题;增加过孔的优化方法简洁、易操作,有效地提高了设计效率。
搜索关键词: 一种 改善 插件 上锡率 pcb 架构
【主权项】:
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