[实用新型]一种触摸屏老化测试系统有效
申请号: | 201921949305.1 | 申请日: | 2019-11-13 |
公开(公告)号: | CN209803254U | 公开(公告)日: | 2019-12-17 |
发明(设计)人: | 方雷锋;范浩雷 | 申请(专利权)人: | 江西联思触控技术有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 11201 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人: | 何世磊 |
地址: | 330096 江西省*** | 国省代码: | 江西;36 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本实用新型涉及一种触摸屏老化测试系统,该系统包括IC芯片、供电接口和示波器,IC芯片包括串联连接的产品连接接口和功能测试接口,产品连接接口包括GND1端口、VCC1端口、SCL1端口、SDA1端口、INT1端口和RST1端口,SCL1端口和SDA1端口用于老化测试时与示波器连接,所述功能测试接口与所述产品连接接口的同类端口一一对应连接,功能测试接口功能测试时和一测试设备连接。本实用新型设置产品连接接口和功能测试接口,将老化测试实验和功能化测试区分开,老化测试时,示波器连接在SCL1端口和SDA1端口确认产品是否正常工作,无需和测试设备进行连接,大大减少测试设备的消耗。 | ||
搜索关键词: | 产品连接 功能测试 测试设备 老化测试 示波器 本实用新型 老化测试系统 测试 供电接口 接口功能 触摸屏 功能化 消耗 | ||
【主权项】:
1.一种触摸屏老化测试系统,其特征在于,包括供电接口和IC芯片,所述IC芯片包括通过导线串联连接的产品连接接口和功能测试接口,所述产品连接接口包括GND1端口、VCC1端口、SCL1端口、SDA1端口、INT1端口和RST1端口,所述GND1端口接地,所述VCC1端口连接所述供电接口,所述SCL1端口和SDA1端口用于老化测试时连接示波器;/n所述功能测试接口包括GND2端口、VCC2端口、SCL2端口、SDA2端口、INT2端口和RST2端口,所述功能测试接口与所述产品连接接口的同类端口一一对应连接,所述功能测试接口用于功能测试时连接测试设备。/n
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于江西联思触控技术有限公司,未经江西联思触控技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201921949305.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种变频串联实验装置
- 下一篇:一种车载电气接口测试仪