[实用新型]一种电子芯片辐照试验专用箱有效
| 申请号： | 201921970888.6 | 申请日： | 2019-11-13 |
| 公开（公告）号： | CN211206673U | 公开（公告）日： | 2020-08-07 |
| 发明（设计）人： | 秦贤军;顾家明;蔡锡明 | 申请（专利权）人： | 上海世龙科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 201800 上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种电子芯片辐照试验专用箱，其特征在于，包括支撑架、铅板、角铁架、物料板；支撑架由若干根的支柱构成方形框架；在支撑架的上方固定物料板；在物料板的两侧设置角铁架；在角铁架与下方的支撑架之间固定一斜撑；在角铁架的上方设置铅板；本实用新型的技术效果在于，利用了铅板能够削弱钴‑60辐射源强度的特性，在电子芯片尤其航天芯片的上方设置铅板，同时，利用不同厚度的铅板削弱钴‑60辐射源不同强度的特性，制造出电子芯片辐照试验专用箱。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电子 芯片 辐照 试验 专用 | ||
【主权项】：
暂无信息
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