[实用新型]一种集束型测试同轴电连接器有效
| 申请号： | 201922004906.1 | 申请日： | 2019-11-19 |
| 公开（公告）号： | CN211017504U | 公开（公告）日： | 2020-07-14 |
| 发明（设计）人： | 姜攀;曾金荣;黄艳 | 申请（专利权）人： | 福州迈可博电子科技股份有限公司 |
| 主分类号： | H01R13/40 | 分类号： | H01R13/40;H01R13/436;H01R13/627;H01R13/631;H01R13/72;H01R24/00;H01R24/40;H01R25/00 |
| 代理公司： | 福州市博深专利事务所(普通合伙) 35214 | 代理人： | 段惠存 |
| 地址： | 350000 福建省福*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及同轴电连接器领域，尤其涉及一种集束型测试同轴电连接器，包括集束插头和集数插座。集束插头的壳体设有多个第一台阶通孔，第一台阶通孔的设置使射频连接器能够稳定的固定在壳体内，不会产生晃动保证结构的稳定，使用多个射频连接器进行测试，不仅能提高测试效率，还能够保证多个射频连接器都能够稳定、精确的插入集束插座的第二凹槽。集束插座的截面形状与第一凹槽截面形状相同，不仅保证了集束插座和集束插头的连接稳定性，也使射频连接器能够与第二凹槽精准对位，确保集束插座和集束插头连接的精准。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 集束 测试 同轴 连接器 | ||
【主权项】：
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