[实用新型]一种半导体器件测试系统有效
| 申请号： | 201922031516.3 | 申请日： | 2019-11-21 |
| 公开（公告）号： | CN211348526U | 公开（公告）日： | 2020-08-25 |
| 发明（设计）人： | 韩正;王刚;朱国军;唐德平 | 申请（专利权）人： | 合肥科威尔电源系统股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 合肥市浩智运专利代理事务所(普通合伙) 34124 | 代理人： | 丁瑞瑞 |
| 地址： | 230088 安徽省合肥市*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种半导体器件测试系统，测试系统包括上位机、示波器、主控系统PLC、电路控制模块以及测试箱体，测试箱体内设置自动化工装，自动化工装上放置被测件，被测件正上方设置测试夹具，自动化工装包括驱动装置，驱动装置驱动自动化工装运动从而带动被测件与测试夹具连接，主控系统PLC分别与测试箱体、测试夹具、主电路单元以及门极驱动单元连接；上位机与示波器连接，示波器与测试箱体连接；本实用新型的优点在于：设计出具有具体的测试电路和测试系统结构的半导体器件测试系统，将理论结合实践，系统中各器件相互配合完成对半导体器件的测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半导体器件 测试 系统 | ||
【主权项】：
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