[实用新型]量测组件有效

专利信息
申请号: 201922096623.4 申请日: 2019-11-28
公开(公告)号: CN212207471U 公开(公告)日: 2020-12-22
发明(设计)人: 钟瑞伦;吴俊鹏 申请(专利权)人: 吴俊鹏;陈纪宇
主分类号: G01R1/067 分类号: G01R1/067;G01R31/26
代理公司: 上海申新律师事务所 31272 代理人: 董科
地址: 中国台湾新竹市北*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 一种量测组件可用于量测高电子迁移率晶体管的特性,包括探针及探棒,探针具有探针本体及设置在探针本体一端的尖端,探针本体具有第一导电金属及披覆于第一导电金属的绝缘层,尖端为接触金属。探棒具有第二导电金属及披覆于第二导电金属的第三金属层;探针的尖端设置于高电子迁移率晶体管的氮化镓层,而探棒与高电子迁移率晶体管的P型氮化镓接触。
搜索关键词: 组件
【主权项】:
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