[实用新型]氮化镓MOSFET封装应力应变分布感测结构有效

专利信息
申请号: 201922112540.X 申请日: 2019-12-01
公开(公告)号: CN210689878U 公开(公告)日: 2020-06-05
发明(设计)人: 赵成;王毅 申请(专利权)人: 扬州扬杰电子科技股份有限公司
主分类号: G01L1/18 分类号: G01L1/18;G01B7/16;H01L23/31;H01L23/495
代理公司: 扬州市苏为知识产权代理事务所(普通合伙) 32283 代理人: 葛军
地址: 225008 江苏省扬*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 氮化镓MOSFET封装应力应变分布感测结构。涉及功率半导体器件技术领域,尤其涉及氮化镓MOSFET封装应力应变分布感测结构。提供了一种方便加工,提高检测可靠性的氮化镓MOSFET封装应力应变分布感测结构。包括芯片、引线框架以及覆盖在芯片、引线框架上的封装层,所述芯片包括衬底、制作在衬底上的氮化镓MOSFET结构层、制作在衬底底部的压阻、覆盖在衬底底面上的绝缘层以及制作在绝缘层上的电极层,所述衬底的材料为单晶硅。所述电极层的材料为金,所述引线框架的材料为铜或者铜合金。本实用新型的氮化镓MOSFET封装应力应变感测结构的制备工艺与常规氮化镓MOSFET芯片的制备工艺和封装工艺兼容,制备过程简单易行。
搜索关键词: 氮化 mosfet 封装 应力 应变 分布 结构
【主权项】:
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