[实用新型]一种接触式非球面轮廓测量工件基座以及测量系统有效
| 申请号： | 201922135542.0 | 申请日： | 2019-12-03 |
| 公开（公告）号： | CN211373563U | 公开（公告）日： | 2020-08-28 |
| 发明（设计）人： | 高慧敏;张志利;刘春平;马晓明 | 申请（专利权）人： | 天津中德应用技术大学 |
| 主分类号： | G01B21/20 | 分类号： | G01B21/20 |
| 代理公司： | 天津市三利专利商标代理有限公司 12107 | 代理人： | 张义 |
| 地址： | 300350 天津*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种接触式非球面轮廓测量工件基座，包括放置在工作平台上、能够在X轴和Y轴方向移动的电动位移平台，所述电动位移平台上方连接有能够绕Z轴旋转的旋转位移台，所述旋转位移平台上方连接有沿Y轴方向设置的下角度位移平台，下角度位移平台上方连接有沿X轴方向设置的上角度位移平台，待测工件放置在上角度位移平台上。相应地，还提供了一种接触式非球面轮廓测量系统。本申请中的工件基座能够提供六自由度的运动，有助于待侧工件在空间中位置变动后的坐标定位，能够实现快速、精确测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 接触 球面 轮廓 测量 工件 基座 以及 系统 | ||
【主权项】：
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