[实用新型]一种用于检测磁芯气隙与开孔位置的检具有效

专利信息
申请号: 201922251200.5 申请日: 2019-12-16
公开(公告)号: CN210892951U 公开(公告)日: 2020-06-30
发明(设计)人: 杨泽坡;杨文秀 申请(专利权)人: 无锡集磁科技有限公司
主分类号: G01B5/08 分类号: G01B5/08;G01B5/12;G01B5/00;G01B5/02
代理公司: 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 代理人: 向文
地址: 214143 江苏省无*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型公开了一种用于检测磁芯气隙与开孔位置的检具,包括检具本体和两个孔位检测探针,所述检具本体上设置有用于放置磁芯并且检测磁芯内外径的磁芯放入槽,所述磁芯放入槽内设置有用于检测磁芯气隙的气隙卡鼻,所述检具本体上设置有用于检测磁芯的两个开孔的位置和向心度的两个磁芯孔位检测孔,两个所述孔位检测探针分别与两个磁芯孔位检测孔相匹配。本实用新型结构简单、设计巧妙,能够一次性直观的检测判断出气隙磁芯的内外径和气隙宽度是否合格,大幅提高了检测效率,节省了检测时间,并且能够检测判断出两个开孔的位置和向心度是否合格,从而提升了检测质量,提高了对于气隙磁芯的质量把控度,产品的废品率得到明显降低。
搜索关键词: 一种 用于 检测 磁芯气隙 位置
【主权项】:
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