[实用新型]一种新型α、β表面污染测量仪有效
| 申请号： | 201922322159.6 | 申请日： | 2019-12-20 |
| 公开（公告）号： | CN211741593U | 公开（公告）日： | 2020-10-23 |
| 发明（设计）人： | 张庆威 | 申请（专利权）人： | 中核控制系统工程有限公司 |
| 主分类号： | G01T1/167 | 分类号： | G01T1/167;G01T1/20 |
| 代理公司： | 核工业专利中心 11007 | 代理人： | 吕岩甲 |
| 地址： | 100176 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型属于污染测量技术领域，具体涉及一种新型α、β表面污染测量仪。包括镀铝脉络膜、双闪烁体、光反射结构、光电倍增管、电子学线路；镀铝脉络膜上设置有光反射结构，镀铝脉络膜与光反射结构之间设置有双闪烁体，光反射结构上设置有光电倍增管，光反射结构上端与电子学线路连接。本实用新型可以达到同时测量α、β表面污染的目的。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 新型 表面 污染 测量仪 | ||
【主权项】：
暂无信息
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