[实用新型]一种新型存储器单元芯片的测试系统及装置有效
| 申请号： | 201922395086.3 | 申请日： | 2019-12-26 |
| 公开（公告）号： | CN210667809U | 公开（公告）日： | 2020-06-02 |
| 发明（设计）人： | 李宛谕;向晓安 | 申请（专利权）人： | 成都达安众科技有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 成都华风专利事务所(普通合伙) 51223 | 代理人： | 张巨箭 |
| 地址： | 610041 四川省成都市中国（四川）自由贸*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种新型存储器单元芯片的测试系统及装置，属于芯片电路测试技术领域，系统包括控制单元、转换单元和存储器单元，所述控制单元输出端与所述转换单元连接，所述转换单元输出端与所述存储器单元连接。本实用新型通过转换单元实现控制单元与存储器单元之间的电平转换，进而使控制单元对存储器单元进行控制，实现了对存储器单元的故障分析，读写性能、稳定性、可靠性、极限写入次数及功耗测试，在保证准确率的基础上大大提高了工作效率高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 新型 存储器 单元 芯片 测试 系统 装置 | ||
【主权项】：
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