[实用新型]一种芯片条多通道并发测试双测试台机构有效
| 申请号： | 201922407235.3 | 申请日： | 2019-12-28 |
| 公开（公告）号： | CN211718453U | 公开（公告）日： | 2020-10-20 |
| 发明（设计）人： | 周建高;周善威 | 申请（专利权）人： | 英诺创新科技（深圳）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳紫晴专利代理事务所(普通合伙) 44646 | 代理人： | 陈映辉 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市光明新区公明街道*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种芯片条多通道并发测试双测试台机构，包括安装底板，所述安装底板一侧设有窗口，且安装底板一侧设有侧面盖板，所述安装底板内侧设有平台骨架，所述安装底板顶部的中部固定连接有电性能测试机。本实用新型，通过设计两个测试平台配合一个电性能测试机的设计，来双倍提高芯片条供料速度，保证电性能测试机测试板上面保持有芯片条在上面测试。从而避免单个测试平台在来回运转取送料的过程时，电性能测试机处于空闲等待状态，而影响整机测试速度。同时测试平台X轴和旋转轴都采用直驱线性马达达到次微米级精度，上下Z轴导向采用预压零间隙带衬套线性轴承，确保测试平台长久运行重复精度满足测试需求，无需定期校准。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 通道 并发 测试 机构 | ||
【主权项】：
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