[发明专利]用于裸片对裸片进行键合的方法和结构有效
申请号: | 201980002468.5 | 申请日: | 2019-10-12 |
公开(公告)号: | CN110892521B | 公开(公告)日: | 2021-01-29 |
发明(设计)人: | 刘峻 | 申请(专利权)人: | 长江存储科技有限责任公司 |
主分类号: | H01L21/768 | 分类号: | H01L21/768;H01L21/8242;H01L25/18;H01L27/108;H01L27/11524;H01L27/11551;H01L27/1157;H01L27/11578 |
代理公司: | 北京永新同创知识产权代理有限公司 11376 | 代理人: | 刘柳;杨锡劢 |
地址: | 430074 湖北省武汉市东湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 提供了三维(3D)存储器设备的裸片对裸片键合方案的实施例。在一示例中,一种用于键合的方法包括:对一个或多个器件晶圆进行分割以获得多个裸片,将多个裸片中的至少一个第一裸片放置到第一载体晶圆上,以及将多个裸片中的至少一个第二裸片放置到第二载体晶圆上,以及将至少一个第一裸片各自与相应的第二裸片键合。至少一个第一裸片和至少一个第二裸片均具有功能性。在一些实施例中,该方法还包括分别去除第一载体晶圆和第二载体晶圆以形成各自具有第一裸片中的一者和相应的第二裸片的多个键合半导体器件。 | ||
搜索关键词: | 用于 进行 方法 结构 | ||
【主权项】:
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造