[发明专利]用于测序的设备有效
| 申请号： | 201980003304.4 | 申请日： | 2019-02-13 |
| 公开（公告）号： | CN111094976B | 公开（公告）日： | 2022-05-13 |
| 发明（设计）人： | B·博扬诺瓦;J·冈拉克 | 申请（专利权）人： | 伊鲁米纳公司 |
| 主分类号： | G01N33/487 | 分类号： | G01N33/487;G01N27/414 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 李春辉 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 示例设备包括与顺式电极相关联的顺式井、与反式电极相关联的反式井以及位于顺式井与反式井之间的场效应晶体管(FET)。场效应晶体管(FET)的示例包括限定在其中的流体系统。流体系统包括面向顺式井的第一腔、与反式井流体连接的第二腔以及从第一腔延伸穿过场效应晶体管的通孔。第一纳米级开口将顺式井和第一腔流体连接，第一纳米级开口具有内径。第二纳米级开口将通孔和第二腔流体连接，第二纳米级开口具有内径。第二纳米级开口内径大于第一纳米级开口内径。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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