[发明专利]用于测量多个待评估材料的中凹表面和参考材料的中凹表面之间的几何偏差的方法有效
| 申请号： | 201980005609.9 | 申请日： | 2019-12-06 |
| 公开（公告）号： | CN111556953B | 公开（公告）日： | 2023-02-28 |
| 发明（设计）人： | A.卡吕;A.马利耶 | 申请（专利权）人： | 法国圣戈班玻璃厂 |
| 主分类号： | G01B11/24 | 分类号： | G01B11/24;G01B11/30;G01B21/04;G01N21/958;B25J9/16 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 邓雪萌;王丽辉 |
| 地址： | 法国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及检验材料的中凹表面的凸起的领域，特别是检验适用于运输工具、特别是用于机动车辆工业的玻璃窗单元的中凹表面的凸起的领域。本发明的主题是一种用于测量多个待评估材料的中凹表面和参考材料的中凹表面之间的几何偏差的方法和系统。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测量 多个待 评估 材料 表面 参考 之间 几何 偏差 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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