[发明专利]直接测量延迟校准方法和设备有效
| 申请号： | 201980005751.3 | 申请日： | 2019-02-11 |
| 公开（公告）号： | CN111357052B | 公开（公告）日： | 2023-05-23 |
| 发明（设计）人： | M·S·埃利奥特 | 申请（专利权）人： | 西部数据技术公司 |
| 主分类号： | G11C7/22 | 分类号： | G11C7/22;G06F3/06 |
| 代理公司： | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人： | 魏利娜 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 公开用于提供直接测量延迟校准的方法和设备。设备可包含回路中的多个延迟元件。所述设备还可包含耦合到所述多个延迟元件的控制器。所述控制器可配置成在预定时间段内确定所述回路中的所述多个延迟元件的延迟振荡。所述控制器还可配置成基于所确定的延迟振荡、所述预定时间段以及所述多个延迟元件的数量来确定用于延迟输入信号的所述多个延迟元件的子集。所述控制器还可配置成使所述输入信号路由通过所述多个延迟元件的所述子集。 | ||
| 搜索关键词： | 直接 测量 延迟 校准 方法 设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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