[发明专利]含有氢扩散阻挡结构的三维存储器装置及其制造方法有效
申请号: | 201980005829.1 | 申请日: | 2019-02-21 |
公开(公告)号: | CN111373533B | 公开(公告)日: | 2023-09-29 |
发明(设计)人: | T.藤田;K.宍户;小川裕之;西川昌利;A.西田;M.乔杜里 | 申请(专利权)人: | 桑迪士克科技有限责任公司 |
主分类号: | H10B41/35 | 分类号: | H10B41/35;H10B43/35;H10B43/20;H10B41/20 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 邱军 |
地址: | 美国得*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一种半导体结构包含半导体装置、上覆氮化硅扩散屏障层,以及延伸穿过所述氮化硅扩散屏障层的互连结构。所述互连结构包含钛扩散屏障结构,其与所述氮化硅扩散屏障层接触以形成连续氢扩散屏障结构。 | ||
搜索关键词: | 含有 扩散 阻挡 结构 三维 存储器 装置 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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