[发明专利]对用于生产三维工件的设备的辐照系统进行校准的装置和方法有效
| 申请号： | 201980012459.4 | 申请日： | 2019-02-05 |
| 公开（公告）号： | CN111712373B | 公开（公告）日： | 2021-04-02 |
| 发明（设计）人： | 克里斯蒂亚娜·蒂尔 | 申请（专利权）人： | SLM方案集团股份公司 |
| 主分类号： | B29C64/153 | 分类号： | B29C64/153;B22F10/28;B22F10/36;B22F12/45;B23K26/04;G02B26/10;B29C64/393;B29C64/277;B33Y30/00;B33Y50/02 |
| 代理公司： | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人： | 孟媛;李雪 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提出了一种对用于生产三维工件的设备(14)的辐照系统(12)进行校准的装置(10)，该辐照系统(12)包括第一辐照单元(16)和第二辐照单元(24)，第一辐照单元用于沿着第一操作轴线(20)将第一辐照束(18)选择性地辐照到辐照平面(22)上，第二辐照单元用于沿着第二操作轴线(28)将第二辐照束(26)选择性地辐照到辐照平面(22)上，其中，该装置(10)包括：控制单元(30)，其适于控制第一辐照单元(16)以根据辐照图案(32)将第一辐照束(18)辐照到辐照平面(22)上，并适于控制第二辐照单元(24)以使第二操作轴线(28)相对于辐照平面(22)移位，使得第二操作轴线(28)穿过由第一辐照单元(16)产生的、到达辐照平面(22)上的辐照图案(32)；和检测单元(34)，其适于检测从辐照平面(22)上的碰撞点(36)的区域排放的处理排放物，第二辐照单元(24)的第二操作轴线(28)在该区域穿过辐照平面(22)，并适于将指示检测到的处理排放物的信号输出到控制单元(30)，并且其中，控制单元(30)还适于确定由第一辐照单元(16)产生的辐照图案(32)在辐照平面(22)上的位置(x1…n，y1…n)；基于由检测单元(34)输出的信号确定由第一辐照单元(16)产生的辐照图案(22)和第二辐照单元(24)的第二操作轴线(28)之间的至少一个相交点(38)的位置(X’s1，Y’s1)；以及基于由第一辐照单元(16)产生的辐照图案(32)的、所确定的位置(X1…n，Y1…n)和至少一个相交点的、所确定的位置(X’s1，Y’s1)对辐照系统(12)进行校准。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 生产 三维 工件 设备 辐照 系统 进行 校准 装置 方法 | ||
【主权项】：
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