[发明专利]用于估计布线接合的功率半导体模块的劣化的方法和系统在审
申请号: | 201980014526.6 | 申请日: | 2019-01-29 |
公开(公告)号: | CN111758038A | 公开(公告)日: | 2020-10-09 |
发明(设计)人: | N·德格雷纳;G·比诺·马里亚尼 | 申请(专利权)人: | 三菱电机株式会社 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G01R31/66 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 刘久亮;黄纶伟 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: |
一种用于估计布线接合的功率半导体模块(1)的劣化的方法包括:a)获得劣化指标(Degr |
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搜索关键词: | 用于 估计 布线 接合 功率 半导体 模块 方法 系统 | ||
【主权项】:
暂无信息
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