[发明专利]超低量程荧光计校准在审
| 申请号： | 201980014594.2 | 申请日： | 2019-03-01 |
| 公开（公告）号： | CN111758020A | 公开（公告）日： | 2020-10-09 |
| 发明（设计）人： | 雍顺祜 | 申请（专利权）人： | 埃科莱布美国股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/27 | 分类号： | G01N21/27;G01N21/64;G01N33/18;G01N21/84 |
| 代理公司： | 北京世峰知识产权代理有限公司 11713 | 代理人： | 卓霖;许向彤 |
| 地址： | 美国明*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 荧光计可用于测量超低浓度的发荧光物质，诸如穿过反渗透膜进入渗透物流的超低浓度的荧光示踪剂。在一些实例中，可以通过基于荧光计测得的荧光反应，重置一些而非所有用于测定所述渗透物中的荧光示踪剂的浓度的校准参数来重新校准所述荧光计。例如，可以为所述荧光计原位重置或重新校准校准曲线的截距，即使所述荧光计尚未进行完全重新校准，也可能提供显著的精度提高。 | ||
| 搜索关键词： | 量程 荧光 校准 | ||
【主权项】：
暂无信息
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