[发明专利]凸缘间测量装置、程序以及方法在审
申请号: | 201980020309.8 | 申请日: | 2019-03-27 |
公开(公告)号: | CN111919084A | 公开(公告)日: | 2020-11-10 |
发明(设计)人: | 本居学 | 申请(专利权)人: | 株式会社华尔卡 |
主分类号: | G01B11/14 | 分类号: | G01B11/14 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 于靖帅;黄纶伟 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一种凸缘间测量装置,其对夹着垫圈并由多个螺栓和螺母紧固的凸缘之间进行测量,该凸缘间测量装置具有:光照射部(20),其通过照射细光,使细光像隔着凸缘之间的间隙而产生在凸缘上;摄像部(16),其获取包含细光像的图像;以及测量部(24),其从图像提取细光像数据和凸缘边缘数据,测量凸缘之间的间隙或间隙台阶。由此,实现了容易相对于凸缘的周面来定位测量位置以及进行凸缘间测量,并且提高了测量精度。 | ||
搜索关键词: | 凸缘 测量 装置 程序 以及 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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