[发明专利]用于监测多晶片功率的装置及方法有效
申请号: | 201980022315.7 | 申请日: | 2019-01-31 |
公开(公告)号: | CN111919129B | 公开(公告)日: | 2023-04-28 |
发明(设计)人: | J·万楚克 | 申请(专利权)人: | 三菱电机株式会社 |
主分类号: | G01R31/42 | 分类号: | G01R31/42;G01R31/26 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 刘久亮;黄纶伟 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明涉及一种用于监测包括处于半桥开关配置中的晶片的多晶片功率模块(15)的方法及装置(10)。本发明:‑将晶片设置为非导通状态,‑选择阻断电压的一个晶片,‑在被选晶片的栅极中注入电流,以对被选晶片的输入寄生电容进行充电,‑监测代表被选晶片的栅极电压的电压,‑当所监测的电压的值稳定时,存储所监测的电压的值。 | ||
搜索关键词: | 用于 监测 多晶 功率 装置 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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