[发明专利]用于具有滑动层的单体化的半导体管芯的测试设备在审
| 申请号： | 201980023222.6 | 申请日： | 2019-04-05 |
| 公开（公告）号： | CN113015912A | 公开（公告）日： | 2021-06-22 |
| 发明（设计）人： | 克里斯多夫·赖特 | 申请（专利权）人： | AMS有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R31/28;G01R3/00 |
| 代理公司： | 北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413 | 代理人： | 谢攀;刘继富 |
| 地址： | 奥地利普*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种用于单体化的半导体管芯的测试设备，包括嵌套框架(1)和底部部件(2)，该嵌套框架和底部部件形成适合于半导体管芯(7)的尺寸的测试装置嵌套件。推动装置(4)，其被设置用于将半导体管芯(7)在测试装置嵌套件中对准。底部部件(2)上的工程塑料层(3)形成表面，半导体管芯(7)在其对准期间在该表面上滑动。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 具有 滑动 单体 半导体 管芯 测试 设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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