[发明专利]用于测试LED阵列砖的设备

摘要

本发明涉及一种用于测试LED阵列砖(20)的设备(10)及其方法。设备(10)包括：用于容纳LED阵列砖(20)的测试平台(100)；至少一个测试臂(200)，其与X轴电机(30)相关联并且可滑动地安装在导轨(300)上，以在LED阵列砖(20)上的一排LED之间移动；与待测LED接触的至少两个探针(210)，其形成于至少一个测试臂(200)的下端(200a)上；Z轴电机(50)，其对应于探针(210)中的每一个，并适于在停止位置和测试位置之间致动探针(210)；与Y轴电机(40)相关联的一对的间隔开的滑块(400)，导轨(300)在其上沿与至少一个测试臂(200)的滑动方向垂直的方向可滑动地移动，以将至少一个测试臂(200)移动到另一排待测LED；控制器，其连接到并控制X轴、Y轴和Z轴电机(30，40，50)，所述电机驱动所述至少一个测试臂(200)的滑动移动、所述导轨(300)的滑动移动以及所述探针(210)在垂直于至少一个测试臂(200)和导轨(300)滑动的平面的方向上的移动，其中，至少两个探针(210)独立于彼此可控地移动，并且至少两个探针(210)中的每一个均能够同时或顺序地进行测试，以使测试时间最小化并实现更高的测试处理量。