[发明专利]原子层沉积法用薄膜形成用原料以及薄膜的制造方法在审

专利信息
申请号: 201980027076.4 申请日: 2019-04-08
公开(公告)号: CN112004959A 公开(公告)日: 2020-11-27
发明(设计)人: 远津正挥;武田圭介;西田章浩 申请(专利权)人: 株式会社ADEKA
主分类号: C23C16/40 分类号: C23C16/40;C07F3/02;C23C16/455;H01L21/316
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 吕琳;朴秀玉
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明使用含有下述通式(1)所示的镁化合物的原子层沉积法用薄膜形成用原料,在基体的表面生产率良好地制造含有镁原子的薄膜。(式中,R1表示异丙基、仲丁基或叔丁基。)
搜索关键词: 原子 沉积 薄膜 形成 原料 以及 制造 方法
【主权项】:
暂无信息
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