[发明专利]用于测试系统的处理器更换套件在审
| 申请号： | 201980030000.7 | 申请日： | 2019-04-19 |
| 公开（公告）号： | CN112074746A | 公开（公告）日： | 2020-12-11 |
| 发明（设计）人： | 布赖恩·查尔斯·瓦德尔;乔纳森·哈内斯·威廉姆斯;罗格·艾伦·辛希莫 | 申请（专利权）人： | 泰瑞达公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/319 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人： | 穆森;戚传江 |
| 地址： | 美国马*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种示例性系统包括：容器，该容器用于容纳被测器件(DUT)；天线，该天线用于与该DUT交换信号，其中该信号中的至少一些信号用于执行该DUT的辐射测试；和盖，该盖被配置为与该容器配合以形成用于包封该DUT的壳体。该壳体用于以物理地或电磁地中的至少一种将该DUT隔离。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测试 系统 处理器 更换 套件 | ||
【主权项】：
暂无信息
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