[发明专利]用于针对样本改善光透导力的使用传感器分子的扫描探针显微镜在审
| 申请号： | 201980035408.3 | 申请日： | 2019-05-24 |
| 公开（公告）号： | CN112513648A | 公开（公告）日： | 2021-03-16 |
| 发明（设计）人： | 托马斯·R·阿尔布雷希特;德里克·诺瓦克;张正勋;朴圣一;李恩成 | 申请（专利权）人： | 分子前景公司 |
| 主分类号： | G01Q60/30 | 分类号： | G01Q60/30;G01Q60/24;G01Q60/56 |
| 代理公司： | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 | 代理人： | 王建国;李琳 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 扫描探针显微镜及显微镜动作方法使用具有介电常数(ε)的至少一种材料和金属探针尖头和样本表面之间的共振材料。在来自光源的电磁辐射传输到金属探针尖头和样本之间的连接时，检测依赖于样本的至少一种材料的介电常数的通过共振传感器材料的电磁辐射吸收。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 针对 样本 改善 光透导力 使用 传感器 分子 扫描 探针 显微镜 | ||
【主权项】：
暂无信息
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