[发明专利]用于提供超分辨率成像的准确度的反馈并改进超分辨率成像的准确度的系统、装置和方法有效
申请号: | 201980040709.5 | 申请日: | 2019-05-21 |
公开(公告)号: | CN112313554B | 公开(公告)日: | 2023-04-28 |
发明(设计)人: | 马修·C·普特曼;约翰·B·普特曼;瓦迪姆·潘斯基;约瑟夫·R·苏卡尔 | 申请(专利权)人: | 纳米电子成像有限公司 |
主分类号: | G02B21/36 | 分类号: | G02B21/36;G06T5/50 |
代理公司: | 北京高沃律师事务所 11569 | 代理人: | 王爱涛 |
地址: | 美国俄亥俄州库亚霍*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 用于反馈和改进超分辨率成像的准确度的系统、方法和计算机可读媒介。在一些实施例中,可以使用显微镜检查系统的低分辨率物镜获得样品的低分辨率图像。可使用超分辨率图像模拟,根据样品的低分辨率图像生成样品的至少一部分的超分辨率图像。随后,可以基于超分辨率图像与使用模拟图像分类器识别的一个或更多个相关样品的至少一部分的一个或更多个实际扫描的高分辨率图像之间的一个或更多个等价程度来识别超分辨率图像的准确度评估。基于超分辨率图像的准确度评估,可以确定是否进一步处理超分辨率图像。如果确定进一步处理超分辨率图像,则可进一步处理超分辨率图像。 | ||
搜索关键词: | 用于 提供 分辨率 成像 准确度 反馈 改进 系统 装置 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于纳米电子成像有限公司,未经纳米电子成像有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201980040709.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。