[发明专利]用于检测在基板的表面上或在基板内的磷酸盐和/或硫酸盐的方法、LWIR检测装置的用途及LWIR成像系统在审
| 申请号： | 201980042596.2 | 申请日： | 2019-07-19 |
| 公开（公告）号： | CN112334757A | 公开（公告）日： | 2021-02-05 |
| 发明（设计）人： | R·伯尔斯特罗姆;K·M·赫特曼 | 申请（专利权）人： | OMYA国际股份公司 |
| 主分类号： | G01N21/35 | 分类号： | G01N21/35;B41M3/14;G07D7/12;B42D25/382;G07D7/1205 |
| 代理公司： | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人： | 冯雯 |
| 地址： | 瑞士奥*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及用于检测在基板的表面上或在基板内的磷酸盐和/或硫酸盐的方法、用于检测由存在于基板上和/或基板中的磷酸盐和/或硫酸盐散射和/或发射反射的电磁辐射的强度的LWIR检测装置的用途、包含磷酸盐和/或硫酸盐的基板用于经由电磁辐射散射和/或发射提供信息的用途以及用于检测基板上和/或基板内的磷酸盐和/或硫酸盐的LWIR成像系统。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 检测 表面上 基板内 磷酸盐 硫酸盐 方法 lwir 装置 用途 成像 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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