[发明专利]磁体检测装置在审
| 申请号： | 201980046210.5 | 申请日： | 2019-07-08 |
| 公开（公告）号： | CN112384815A | 公开（公告）日： | 2021-02-19 |
| 发明（设计）人： | 桑波田晃弘;日下部守昭;关野正树 | 申请（专利权）人： | 玛特里克细胞研究所株式会社 |
| 主分类号： | G01R33/12 | 分类号： | G01R33/12;A61B5/05;G01R33/07;G01R33/09;G01R35/00 |
| 代理公司： | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人： | 肖靖 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 课题在于提供在使用磁传感器来检测检体内的磁体时能够降低磁传感器的配设位置处的磁场梯度的进行高灵敏度的检测的磁体检测装置。解决手段如下：将用于对磁体进行磁化的磁铁部(3)设为包括：磁铁主体部(5)；以及校正部(6)，配置于磁铁主体部(5)的前方来校正从磁铁主体部(5)产生的磁场，校正部(6)构成为通过将由磁铁主体部(5)产生的磁场抵消，从而形成成为所期望的磁场强度的特定位置(N)，并且通过根据校正部(6)的磁场梯度，使磁铁主体部(5)从磁铁部(3)的前端部(3a)分离，从而调节磁铁部(3)产生的磁场的磁场零点(N)处的磁场梯度，在形成于磁铁部(3)的前端部(3a)的磁场零点(N)处配置磁传感器(4)。 | ||
| 搜索关键词： | 磁体 检测 装置 | ||
【主权项】：
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