[发明专利]波长偏移片耦合的闪烁检测器在审
| 申请号： | 201980047769.X | 申请日： | 2019-04-12 |
| 公开（公告）号： | CN112424644A | 公开（公告）日： | 2021-02-26 |
| 发明（设计）人： | 阿龙·J·科图雷;杰弗里·M·登克 | 申请（专利权）人： | 美国科学及工程股份有限公司 |
| 主分类号： | G01T1/36 | 分类号： | G01T1/36 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 王红艳 |
| 地址： | 美国马*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本说明书描述一种X射线检测器，该X射线检测器包括：至少一个闪烁体屏幕，用于吸收入射的X射线并发射相应的光射线；波长偏移片(WSS)，其与至少一个闪烁体屏幕耦合，用于使所发射的光射线偏移；至少一根波长偏移光纤(WSF)，其与WSS的至少一个边缘耦合，用于收集偏移的光射线；以及光电检测器，用于检测所收集的光射线。 | ||
| 搜索关键词： | 波长 偏移 耦合 闪烁 检测器 | ||
【主权项】：
暂无信息
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