[发明专利]用于探测测量区域中的物质的光学探测系统在审
| 申请号： | 201980050073.2 | 申请日： | 2019-07-23 |
| 公开（公告）号： | CN112469989A | 公开（公告）日： | 2021-03-09 |
| 发明（设计）人： | P·施密特-克丁 | 申请（专利权）人： | 德尔格安全股份两合公司 |
| 主分类号： | G01N21/3504 | 分类号： | G01N21/3504;G01J3/02 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 胡莉莉;刘春元 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种具有两级均化设备（1）和接收器（42）的探测系统。朝着光子场的场方向（50）来看，均化设备（1）处于测量区域（44）与接收器（42）之间，并且包括第一扩散器（10）和第二扩散器（12）。第一扩散器（10）从输入光子场中产生中间光子场。第二扩散器（12）从中间光子场中产生输出光子场。根据入射的光子场，接收器（42）产生信号。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 探测 测量 区域 中的 物质 光学 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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