[发明专利]单独测量预成型件温度的方法有效

专利信息
申请号: 201980056483.8 申请日: 2019-08-05
公开(公告)号: CN112654483B 公开(公告)日: 2023-05-05
发明(设计)人: L·波维莱克;Y·吉拉德 申请(专利权)人: 西得乐集团
主分类号: B29C49/78 分类号: B29C49/78;B29C49/06;B29C49/64;B29L31/00
代理公司: 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 代理人: 李丽
地址: 法国奥克特*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及在设备(20)中测量预成型件(10)温度的方法,设备包括:预成型件(10)输送装置(46);无接触式温度测量装置(54),用于无接触地测量预成型件(10)的一部分的温度,包括传感器(56),传感器能够测量在生产路径的测量段上连续行进运动的预成型件(10)的温度;其特征在于,测量装置(54)配备有光学装置(60),光学装置允许将传感器(56)的图像沿测量方向(Y)投射到预成型件(10)温度的测量区(62)中,测量区(62)具有的截面尺寸小于预成型件(10)的待测量部分的外径。本发明还涉及应用这种方法的设备(20)。
搜索关键词: 单独 测量 成型 温度 方法
【主权项】:
暂无信息
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