[发明专利]具有高探测量子效率的闪烁体阵列在审
| 申请号： | 201980062582.7 | 申请日： | 2019-09-13 |
| 公开（公告）号： | CN112771412A | 公开（公告）日： | 2021-05-07 |
| 发明（设计）人： | H·K·维乔雷克 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦有限公司 |
| 主分类号： | G01T1/20 | 分类号： | G01T1/20 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 李光颖 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及用于辐射成像探测器的闪烁体阵列。还提供了用于制造闪烁体阵列的方法、辐射成像探测器以及医学成像系统。所述闪烁体阵列具有辐射接收面和相对的闪烁光输出面。所述闪烁体阵列包括多个闪烁体元件和分离器材料，所述分离器材料被设置在所述闪烁体元件之间。所述分离器材料包括分离器颗粒，所述分离器颗粒具有预定尺寸；并且所述分离器材料通过在闪烁体元件之间提供物理间隔来提供闪烁体元件的光学分离，所述间隔的宽度是由分离器颗粒尺寸来限定的。 | ||
| 搜索关键词： | 具有 探测 量子 效率 闪烁 阵列 | ||
【主权项】：
暂无信息
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