[发明专利]用于衰减全反射光谱的校准系统在审
| 申请号： | 201980062827.6 | 申请日： | 2019-07-24 |
| 公开（公告）号： | CN112771369A | 公开（公告）日： | 2021-05-07 |
| 发明（设计）人： | C·R·莫恩;C·霍克 | 申请（专利权）人： | 安捷伦科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/552 | 分类号： | G01N21/552 |
| 代理公司： | 北京坤瑞律师事务所 11494 | 代理人： | 封新琴 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 公开了一种ATR扫描仪(80)及其校准方法。所述扫描仪包括具有反射面和光学端口的ATR物镜(67)，所述光学端口适于接收第一光束，并将第一光束聚焦到反射面上的位置处的一点，使得第一光束被反射面反射，并且第一光束没有任何部分以大于临界角的角度撞击反射面。检测器(63b)测量从反射面反射的光的强度。控制器(69)控制焦点的位置，并确定作为反射面上的位置的函数的入射到反射面上的光的强度以及作为反射面上的位置的函数的从反射面反射的光的强度。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 衰减 全反射 光谱 校准 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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