[发明专利]粒子分离测量设备以及粒子分离测量装置在审
| 申请号： | 201980062830.8 | 申请日： | 2019-09-24 |
| 公开（公告）号： | CN112771364A | 公开（公告）日： | 2021-05-07 |
| 发明（设计）人： | 米田将史 | 申请（专利权）人： | 京瓷株式会社 |
| 主分类号： | G01N15/00 | 分类号： | G01N15/00;B03B5/00;G01N37/00 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 王晖 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本公开的粒子分离测量设备(1)具备：第1流路设备(2)，具有包含作为分离对象的特定的粒子的第1流体流出的分离后流出口(13)；和第2流路设备(3)，载置该第1流路设备(2)，具有第1流体流入的第1流入口(23)，在下表面配置有分离后流出口(13)的第1流路设备(2)被载置于在第1区域(21)的上表面配置有第1流入口(23)的第2流路设备(3)，分离后流出口(13)和第1流入口(23)对置地连接，第1流入口(23)的开口的大小大于分离后流出口(13)的开口的大小。 | ||
| 搜索关键词： | 粒子 分离 测量 设备 以及 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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